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Nagendra Parasad Yadav Ji-Chuan Xiong Wei-Ping Liu Wei-Ze Wang Yun Cao Ashish Kumar Xue-Feng Liu 《电子科技学刊:英文版》2021,19(3):233-242
The quantitative optical measurement of deep sub-wavelength features with sub-nanometer sensitivity addresses the measurement challenge in the semiconductor fabrication process. Optical scatterings from the sidewalls of patterned devices reveal abundant structural and material information. We demonstrated a parametric indirect microscopic imaging (PIMI) technique that enables recovery of the profile of wavelength-scale objects with deep sub-wavelength resolution, based on measuring and filtering the variations of far-field scattering intensities when the illumination was modulated. The finite-difference time-domain (FDTD) numerical simulation was performed, and the experimental results were compared with atomic force microscopic (AFM) images to verify the resolution improvement achieved with PIMI. This work may provide a new approach to exploring the detailed structure and material properties of sidewalls and edges in semiconductor-patterned devices with enhanced contrast and resolution, compared with using the conventional optical microscopy, while retaining its advantage of a wide field of view and relatively low cost. 相似文献
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对四川穿斗民居的田野调查发现,工匠使用的术语存在一物多名、多物同名、异物类名等现象.在梳理田野调查、已有文献大木作术语的基础上,通过设计和施工阶段术语的不同作用,分析具体营造中工匠的思维与意识.同时从术语的角度,就穿斗结构以及术语的重名、异名现象提出新的认识. 相似文献
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Lim SuJi Yun Choong-In Song Dahyun Kang Seok-Seong Kim Young-Jun 《Food science and biotechnology》2022,31(9):1145-1155
Food Science and Biotechnology - Oat contains a variety of phenolic compounds, including avenanthramides, which are found only in oats. This study was conducted to establish the quantitative... 相似文献
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